Ausgewählt nach Autor: "Ufer,K." (1 Einträge)

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Verfasser:

Ufer,K. ; Roth,G. ; Stanjek,H. ; Dohrmann,R. ; Kleeberg,R. ; Bergmann,J.

Titel:

Descprition and quantification of powder X-ray diffractograms of turbostratically disordered layer structures with a Rietveld compatible approach

Erscheinungsjahr:

2004

Eintragsnummer 9893 in Datenbank Schriften bis 2006